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BW-GDW-660
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| 標題：芯片分選機的背景技術 |
| 簡介：??IC芯片完成加工制造工序后，需要一一進行測試和分類，芯片分類存放有利于芯片的合理使用。測試分選機是將已經通過預定制造工序制造的半導體裝置電連接至測試器并且根據測試結果將半導體裝置分類的設備。最初，人們對芯片測試后，是靠人工分類放置的，不僅效率低，還容易發生錯誤?，F有技術中已有自動測試分選機，例如專利公開號：CN102698969A,公開日：2012年10月03日，發明創造名稱為：一種IC芯片自動測試分選機，該申請案公開了一種IC芯片自動測試分選機，包括可將堆積的實料盤逐一分離的上料實托盤分離輸入裝置，和料船模組裝置。包括受控于伺服電機左右擺動的用于放置待測芯片的左料船和用于放置測試后芯片的...... [詳細] |
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